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產(chǎn)品詳情

  • 產(chǎn)品名稱：熱釋光探測(cè)測(cè)試儀

  • 產(chǎn)品型號(hào)：GR200A
  • 產(chǎn)品廠商：其它品牌
  • 產(chǎn)品文檔：
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簡(jiǎn)單介紹：
熱釋光探測(cè)儀燈照無(wú)影響，太陽(yáng)光照有影響 光照對(duì)衰退影響
詳情介紹：

熱釋光探測(cè)器  型號(hào)：GR200A

熱釋光探測(cè)器LiF(Mg,Cu,P)的技術(shù)指標(biāo)

測(cè)量范圍：10uGY---10GY

HP(10)時(shí) 20keV---9MeV

HP(0.07)時(shí) 10keV---1.5MeV

探測(cè)下限：0.1uGY

誤差：<30%

3個(gè)月內(nèi)累積計(jì)量損失：<10%

重復(fù)性：>2%

LiF(Mg,Cu,P)主要特點(diǎn)

劑量片形狀

GR-200A

圓形： 直徑 4.5mm ，厚 0.8mm

有效原子序數(shù)Z

8.2

密度（g/M3）

2.5

發(fā)光波長(zhǎng)

385

相對(duì)于TL—100靈敏度

65

峰值加熱溫度℃

210

零劑量讀數(shù)(GY)

1

探測(cè)域值（GY）

1

線性范圍（GY）

10-12

劑量計(jì)角響應(yīng)

射線入射角偏離正常方向0、20、40、60、劑量計(jì)的劑量響應(yīng)大變化11%

重復(fù)性

<2%

能量響應(yīng)（30keV---1.3MeV）

<20%

批次 （1SD）

<5%

衰退（室溫）

<5%/年

光照對(duì)衰退影響

燈照無(wú)影響，太陽(yáng)光照有影響

重復(fù)使用次數(shù)

>100次

劑量率變化影響

無(wú)影響

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